日立X-MET8000在分析质子膜贵金属担载量的应用
质子交换膜（PEM）广泛用于质子交换膜燃料电池和氢气电解水。质子交换膜是氢能工业中最重要的部分，贵金属（如铂/Pt、铱/Ir）资源稀缺且价格昂贵，因此降低质子交换膜中贵金属的负载量非常重要。
X射线荧光（XRF）是一种分析技术，广泛用于分析贵金属担载量分析。它提供可靠和快速的分析（在几秒钟内即可获得结果），是非破坏性的（分析后无需报废样品），任何操作员只需很少的培训即可使用。台式XRF分析仪通常用于测量小型部件，而手持式XRF分析仪则提供真正的便携式分析，非常适合在任何位置测试大型和/或重型部件。日立**的X-MET8000 手持式分析仪结合了高性能 X 射线管和高分辨率硅漂移探测器 （SDD），可提高质子膜贵金属担载量分析所需的速度和性能。其坚固性（IP54等级）和较长的电池寿命（长达 10-12 小时）使其成为进货或库存检查以及过程和质量控制的工具。
分析前无需样品制备。用户只需将分析仪测量窗口放在待测部件上，然后按下扳机即可开始分析。初始结果会在 2 秒内显示在分析仪的集成触摸屏上，并迅速更新测量结果直至测量结束。贵金属担载量的典型分析时间为10-30秒。
通过在待测样品表面读取多个读数，或在分析过程中将X-MET8000的测量窗口滑过样品表面，可以快速验证大面积样品的担载量均匀性。
在测试小型部件时，X-MET8000 的小光斑和相机选项可用于将 X-MET8000 的测量窗口**定位在样品上，并测量尺寸小至 3 毫米的部件。
X-MET8000经过校准后（可由客户自由校准）可为分析PEM贵金属担载量提供准确且稳定的结果。X-MET 8000的易用性和坚固性使其成为车间工艺和质量控制的理想工具。校准软件的多功能性还可以分析其他种类的PEM样品（单元素和多元素），确保快速监测贵金属的担载量。由于X-MET8000的屏幕上可以在几秒钟内显示结果，因此可以当场做出接受或拒绝产品或修改生产过程的决定，从而**限度地提高生产率并节省成本。