FISCHERSCOPE X-RAY XUL_ XULM
一、产品概述 FISCHERSCOPE X-RAY XUL 系列是德国菲希尔(Fischer)面向电镀行业的基础型能量色散 X 射线荧光(EDXRF)分析仪。以高性价比和简便操作为设计理念,是电镀车间镀液成分监控和镀层质量控制的理想选择。 XUL 标准型 固定准直器配置,适合常规镀层测量 操作简便,一键启动测量程序 经济实惠,电镀车间入门首选 XULM...
产品概览
X射线荧光测厚仪
德国菲希尔Fischer
德国菲希尔(Fischer)FISCHERSCOPE X-RAY XUL/XULM 能量色散X射线荧光测厚仪——电镀车间基础型EDXRF分析仪,采用钨靶微焦点X射线管,搭载WinFTM专业软件。支持单层/多层镀层厚度测量及镀液金属离子浓度分析。适用于电子电镀、装饰电镀、功能性电镀等行业的镀层质量检测与过程控制。
技术参数
品牌:德国菲希尔Fischer
分类:X射线荧光测厚仪
产品编号:842
产品说明
一、产品概述
FISCHERSCOPE X-RAY XUL 系列是德国菲希尔(Fischer)面向电镀行业的基础型能量色散 X 射线荧光(EDXRF)分析仪。以高性价比和简便操作为设计理念,是电镀车间镀液成分监控和镀层质量控制的理想选择。
XUL 标准型
固定准直器配置,适合常规镀层测量
操作简便,一键启动测量程序
经济实惠,电镀车间入门首选
XULM 增强型
可更换准直器,灵活适应不同样品尺寸
更高 X 射线功率,缩短测量时间
适合多样品、多规格的检测场景
二、核心技术参数
测量原理: 能量色散 X 射线荧光(EDXRF)
X 射线管: 钨靶微焦点 X 射线管
探测器: 比例计数器或硅漂移探测器(SDD)
准直器: XUL:固定式;XULM:可更换式
测量方向: 从上往下测量
软件: WinFTM 操作与分析软件
三、测量能力
镀层厚度测量
单层镀层:Au、Ag、Pd、Ni、Cu、Sn、Zn、Cr 等金属镀层
双层及合金镀层:Au/Ni/Cu、SnPb 合金等
可同时分析镀层厚度与镀层成分
镀液成分分析
电镀槽液中金属离子浓度实时监控
更多参数与特点
快速判断镀液是否需要补充或调整
减少实验室送检等待时间,提高生产效率
四、核心功能特点
WinFTM 专业软件
Fischer 自主研发的 WinFTM 软件,集成基本参数法(FP法)计算引擎,无需标准片即可进行无标样测量。支持自动识别镀层结构、多镀层同时分析、生成专业检测报告。
视频定位系统
内置彩色摄像头,精确对焦测量位置,可放大观察微小样品表面细节,确保每次测量位置准确一致。
一键测量
预设测量程序,操作员只需放置样品、按下启动键,仪器自动完成定位、测量、分析和数据保存。
安全防护
全封闭式测量舱,符合德国及国际辐射防护标准,内置安全联锁装置,开盖自动切断 X 射线。
五、典型应用行业
电子电镀:PCB 表面镀金/镀银/镀镍厚度、连接器端子镀层检测
装饰电镀:卫浴五金、钟表首饰镀层厚度与成分分析
功能性电镀:紧固件镀锌/镀镍、军工零部件镀层检验
电镀液管理:镀槽金属离子浓度在线监控
来料检验:供应商镀层质量快速筛查
六、标准配置清单
更多参数与特点
X 射线主机、WinFTM 软件、操作手册、校准标准片、电源线、USB 数据线;选配:不同规格准直器、自动样品台。
